| 产品特性：操作简单 | 是否进口：否 | 产地：广东 |
| 加工定制：是 | 类型：镀层测厚仪 | 品牌：菲希尔 |
| 型号：FISCHERSCOPE-XDL-B | 测量范围：1-99mm | 显示方式：外接电脑 |
| 电源电压：250-600V | 外形尺寸：660*660*660mm | 使用：操作简单 |
| 售后：原装配件，厂家价格 | 租赁：可日租，月租，长期租赁，短期租赁 | 销售：德国原装新机，二手仪器现货 |
| 上面服务：可上门增加曲线，校正，升级的售后 |
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FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基於Windows 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統。測量方向從上往下。
XDL-B 的特色是獨特的距離修正方法。
DCM方法（距離控制測量）自動地修正在不同的測量距離上光譜強度的差別。
對於XDL?-B 帶測量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在複雜幾何外形的測試工件和不同測量距離上實現簡便測量的可能性。在加強的軟件功能之下，簡化了測量比較複雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標準片之下，一樣測量。
典型的應用範圍如下：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。
